图片详情
干涉仪平面多维度光学调整架
干涉仪检测元件的平面式多维度光学调整架,具有细分条纹功能,可旋转,56.8°布鲁斯特角检测等。

目前同济大学及部分光学企业在使用本产品。
脚注信息
Copyright (C) 2010-2011 All Rights Reserved. 上海中晶企业发展有限公司 版权所有 沪ICP备17000538号 
服务时间:周一至周六 07:30 — 17:00  服务热线:021-69178855 
联系地址:上海市嘉定区南翔工业开发区德力西路67号   邮政编码:201802  
 

建议浏览分配率:1366×768
166666666661